判斷題頻率和晶片尺寸相同,橫波指向性比縱波好。
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最新試題
曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。
題型:判斷題
所謂“幻影回波”,是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。
題型:判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對(duì)厚度大的工件,應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型:判斷題
測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型:判斷題
目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。
題型:判斷題
測(cè)定組合靈敏度時(shí),應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電燥聲電平≦10%,再進(jìn)行測(cè)試。
題型:判斷題
由于水中只能傳播縱波,所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。
題型:判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
題型:判斷題
雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
題型:判斷題
實(shí)際探傷中,為提高掃查速度,減少雜波的干擾,應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。
題型:判斷題