利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。