橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

測定“始脈沖寬度”時，應將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

脈沖重復頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結合工件形狀和檢測技術綜合考慮。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。