穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。