橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。