串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

測定“始脈沖寬度”時，應將儀器的靈敏度調至最大。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

測定組合靈敏度時，應先調節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。