當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。