斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。