斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。