軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

測定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。