斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。