工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。