由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。