A.集電極電流與基極電流之比
B.集電極電流與發(fā)射極電流之比
C.發(fā)射極電流與基極電流之比
D.發(fā)射極電流與集電極電流之比
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.晶體管噪音最大時(shí)對(duì)應(yīng)的頻率
B.電流不放大時(shí)對(duì)應(yīng)的頻率
C.電壓放大倍數(shù)為1時(shí)對(duì)應(yīng)的頻率
D.功率放大倍數(shù)為1時(shí)對(duì)應(yīng)的頻率
A.共基極電流放大倍數(shù)為1時(shí)所對(duì)應(yīng)的頻率
B.共集電極電流放大倍數(shù)為1時(shí)所對(duì)應(yīng)的頻率
C.共發(fā)射極電流放大倍數(shù)為1時(shí)所對(duì)應(yīng)的頻率
D.共發(fā)射極電流放大倍數(shù)為0.707時(shí)所對(duì)應(yīng)的頻率
A.下降
B.不變
C.提高
D.與噪音頻率有關(guān)
A.1
B.2
C.4
D.3
A.由于外加電壓的變化引起的基區(qū)寬度變化的現(xiàn)象
B.基區(qū)寬度隨著摻雜濃度增大而加寬的現(xiàn)象
C.基區(qū)厚度對(duì)發(fā)射結(jié)和集電結(jié)的影響的現(xiàn)象
D.基區(qū)厚度會(huì)變化的現(xiàn)象
最新試題
處于飽和工作區(qū)的n溝耗盡型MOS管,漏極將失去對(duì)溝道電流的控制能力。
雙極型晶體管內(nèi)部有()個(gè)極,()個(gè)區(qū),()個(gè)PN結(jié)。
MOS型場(chǎng)效應(yīng)晶體管的閾值電壓與襯底材料的摻雜濃度是有關(guān)的。
絕緣層材料質(zhì)量影響MOS管的閾值電壓。
n溝耗盡型MOS型場(chǎng)效應(yīng)晶體管的閾值電壓一定大于相應(yīng)的n溝增強(qiáng)型MOS管的閾值電壓。
半導(dǎo)體的主要特征有()()()和()。
p型襯底材料的MOS管,其半導(dǎo)體的摻雜濃度增大,閾值電壓隨之增大。
柵極材料與半導(dǎo)體材料的功函數(shù)差會(huì)因半導(dǎo)體材料的摻雜濃度變化而變化。
MOS管的伏安特性曲線含義是漏源電壓與漏源電流之間的關(guān)系曲線。
()是最早實(shí)現(xiàn)提純和完美晶體生長(zhǎng)的半導(dǎo)體材料。