單項(xiàng)選擇題懸浮區(qū)熔法檢驗(yàn)多晶硅中基磷含量時(shí),采用快速區(qū)熔法的工藝時(shí),第一次區(qū)熔時(shí),第一區(qū)熔區(qū)停留揮發(fā)時(shí)間()左右。
A.3min
B.5min
C.7min
D.10min
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1.單項(xiàng)選擇題光圖定向法結(jié)果直觀,操作(),誤差()。
A.簡單較大
B.復(fù)雜較大
C.簡單較小
D.復(fù)雜較小
2.單項(xiàng)選擇題()是影響硅器件成品率的一個(gè)重要因素,也是影響器件性能的穩(wěn)定性和可靠性的重要因素。
A.點(diǎn)缺陷
B.線缺陷
C.面缺陷
D.微缺陷
3.單項(xiàng)選擇題用冷熱探筆法測量()半導(dǎo)體時(shí),冷端帶正電,熱端帶負(fù)電。
A.P型
B.N
C.PN型
D.以上皆不是
最新試題
N型襯底的MOS管的伏安特性曲線可以分為可調(diào)電阻區(qū),飽和區(qū)和擊穿區(qū)。
題型:判斷題
MOS管的伏安特性曲線含義是漏源電壓與漏源電流之間的關(guān)系曲線。
題型:判斷題
當(dāng)p溝耗盡型MOS管處于飽和工作區(qū)時(shí),漏極將失去對漏源電流的控制能力。
題型:判斷題
()是最早實(shí)現(xiàn)提純和完美晶體生長的半導(dǎo)體材料。
題型:填空題
第一塊集成電路發(fā)明于()年。
題型:填空題
理想的MOS管其柵極電壓只會落在絕緣層和半導(dǎo)體襯底表面層上,柵極分壓占比小于50%。
題型:判斷題
絕緣層材料質(zhì)量影響MOS管的閾值電壓。
題型:判斷題
MOS管閾值電壓的單位是eV。
題型:判斷題
MOS管可以分為4類型,其中p溝增強(qiáng)型MOS的載流子主要是電子。
題型:判斷題
1947年,()等人制造了第一個(gè)晶體管。
題型:填空題