軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。