使用雙探頭掃查時(shí)，如盲目改變掃查方向，將會(huì)導(dǎo)致（）。

在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí)，如果重復(fù)頻率過(guò)高，儀器可能會(huì)產(chǎn)生（）

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

探傷中對(duì)工件材料的（）有一定的要求。

垂直法探傷時(shí)，對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?；夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線(xiàn)上移動(dòng)，相鄰掃查線(xiàn)的間距往往（）探頭直徑。

用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm，焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè)，應(yīng)選擇K值為（）的探頭合適。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。