A.縱向掃查
B.直線掃查
C.橫向掃查
D.格子掃查
E.點(diǎn)掃查
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.靈敏度
B.超聲波的強(qiáng)弱
C.聲束軸線的方向
D.一次波的聲程
E.二次波的探測(cè)范圍
A.半擴(kuò)散角減小
B.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加
C.波束指向性好
D.半擴(kuò)散角增大
E.超聲波能量集中
A.直探頭
B.縱波斜探頭
C.橫波斜探頭
D.表面波探頭
E.雙晶探頭等
A.聲束變寬
B.聲束變窄
C.聲能集中
D.分辨率高
E.分辨率低
A.大小
B.類型
C.形狀
D.取向
E.尺寸
最新試題
探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的()做好記錄。
在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí),如果重復(fù)頻率過(guò)高,儀器可能會(huì)產(chǎn)生()
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
鋼軌曲線上股由于接觸疲勞強(qiáng)度不足,形成軌頭表面剝離,一般剝離層深度為()左右。
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。
超聲波探傷探頭的型式一般有()等。
金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度,以最大回波顯示的刻度來(lái)確定()。
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
探頭移動(dòng)過(guò)程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動(dòng),稱為擺動(dòng)掃查。