在橫波探傷中，探頭K值對(duì)探傷（）有較大的影響。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì)，用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí)，需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對(duì)探傷有利。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測(cè)面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí)，執(zhí)機(jī)人員必須“站停看波”在保持水量充足的情況下，探傷靈敏度應(yīng)提高（）。

耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤(rùn)性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm，焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè)，應(yīng)選擇K值為（）的探頭合適。