單項(xiàng)選擇題Si中摻金的工藝主要用于制造()器件。
A.高可靠性
B.高頻
C.大功率
D.高電壓
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1.單項(xiàng)選擇題若某半導(dǎo)體導(dǎo)帶中電子出現(xiàn)幾率為零,則此半導(dǎo)體必定()。
A.處于絕對零度
B.不含任何雜質(zhì)
C.不含任何缺陷
D.不含施主
2.單項(xiàng)選擇題II-VI族化合物中的M空位Vm是()。
A.點(diǎn)陣中的金屬原子間隙
B.一種在禁帶中引入施主的點(diǎn)缺陷
C.點(diǎn)陣中的點(diǎn)陣中的金屬原子空位
D.一種在禁帶中引入受主的位錯
3.單項(xiàng)選擇題電子在晶體中的共有化運(yùn)動是指()。
A.電子在晶體中各處出現(xiàn)的幾率相同
B.電子在晶體原胞中各點(diǎn)出現(xiàn)的幾率相同
C.電子在晶體各原胞對應(yīng)點(diǎn)出現(xiàn)的幾率相同
D.電子在晶體各原胞對應(yīng)點(diǎn)的相位相同
4.單項(xiàng)選擇題最小電導(dǎo)率出現(xiàn)在()型半導(dǎo)體。
A.n
B.p
C.本征
5.問答題硝酸(HNO3)。
最新試題
N型襯底的MOS管的伏安特性曲線可以分為可調(diào)電阻區(qū),飽和區(qū)和擊穿區(qū)。
題型:判斷題
當(dāng)p溝耗盡型MOS管處于飽和工作區(qū)時,漏極將失去對漏源電流的控制能力。
題型:判斷題
“合金型晶體管”,“平面型晶體管”和“外延型晶體管”這三種晶體管中,目前生產(chǎn)最主要的一種是()。
題型:填空題
柵極材料和半導(dǎo)體襯底材料的功函數(shù)差會影響MOS管的閾值電壓。
題型:判斷題
絕緣層材料質(zhì)量影響MOS管的閾值電壓。
題型:判斷題
處在飽和工作區(qū)的N型襯底材料MOS管,柵極將失去對漏源電流的控制作用。
題型:判斷題
半導(dǎo)體襯底材料與柵極材料之間的逸出功差變化范圍較小。
題型:判斷題
實(shí)際的MOS管,絕緣層相當(dāng)于一個電阻無限大的絕緣體,其中沒有任何雜質(zhì)和缺陷。
題型:判斷題
p型襯底材料的MOS管,其半導(dǎo)體的摻雜濃度增大,閾值電壓隨之增大。
題型:判斷題
()是最早實(shí)現(xiàn)提純和完美晶體生長的半導(dǎo)體材料。
題型:填空題