單項選擇題一臺新出廠的的超聲波探傷儀,其水平線性誤差應(yīng)為()

A、>6分貝
B、>2%
C、<6分貝
D、≤2%


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你可能感興趣的試題

1.單項選擇題一臺經(jīng)校準(zhǔn)好的超聲波探傷儀,其垂直線性誤差應(yīng)為()

A、>8%
B、≤8%
C、20分貝
D、6分貝

2.單項選擇題儀器抑制旋鈕的功能是()

A、只抑制雜波而對缺陷波無影響 
B、限制檢波后的信號輸出幅度,同時抑制雜波和缺陷波 
C、可以改善儀器的垂直線性 
D、可以提高儀器的動態(tài)范圍

3.單項選擇題()頻率的探頭具有最薄的石英晶片

A、1兆赫
B、5兆赫
C、10兆赫
D、25兆赫

4.單項選擇題()頻率的探頭可獲得最佳分辨力

A、1兆赫
B、5兆赫
C、10兆赫
D、25兆赫

5.單項選擇題()探頭具有較長的近場長度

A、1兆赫,Φ14毫米
B、2.5兆赫,Φ14毫米
C、1兆赫,Φ20毫米
D、2.5兆赫,Φ30毫米

最新試題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。

題型:單項選擇題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項選擇題

檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:單項選擇題

X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題