單項(xiàng)選擇題一臺(tái)經(jīng)校準(zhǔn)好的超聲波探傷儀,其垂直線性誤差應(yīng)為()

A、>8%
B、≤8%
C、20分貝
D、6分貝


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題儀器抑制旋鈕的功能是()

A、只抑制雜波而對(duì)缺陷波無影響 
B、限制檢波后的信號(hào)輸出幅度,同時(shí)抑制雜波和缺陷波 
C、可以改善儀器的垂直線性 
D、可以提高儀器的動(dòng)態(tài)范圍

2.單項(xiàng)選擇題()頻率的探頭具有最薄的石英晶片

A、1兆赫
B、5兆赫
C、10兆赫
D、25兆赫

3.單項(xiàng)選擇題()頻率的探頭可獲得最佳分辨力

A、1兆赫
B、5兆赫
C、10兆赫
D、25兆赫

4.單項(xiàng)選擇題()探頭具有較長的近場(chǎng)長度

A、1兆赫,Φ14毫米
B、2.5兆赫,Φ14毫米
C、1兆赫,Φ20毫米
D、2.5兆赫,Φ30毫米

5.單項(xiàng)選擇題有晶片所發(fā)射的超聲波聲束的擴(kuò)散主要取決于()

A、探傷類型
B、晶片背襯的致密性
C、頻率和晶片尺寸
D、脈沖寬度

最新試題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。

題型:判斷題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題