掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

根據衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

紅外光分為（）。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

電子束與固體樣品作用時，會產生背散射電子。背反射電子的產額隨樣品（）的增加而增多。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。