根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒(méi)有損失。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。