利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

關于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結果沒有影響。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。