單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)對(duì)比試塊材質(zhì)的最基本要求是()。

A.材質(zhì)均勻,內(nèi)部雜質(zhì)少無影響使用缺陷
B.加工容易、不易變形和銹蝕
C.無影響使用缺陷
D.聲學(xué)性能盡可能與被檢工件相同或相近


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4.單項(xiàng)選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用,說法錯(cuò)誤的是()。

A.測(cè)試、校驗(yàn)儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時(shí)基線、確定靈敏度
C.測(cè)試工件的聲阻抗
D.評(píng)判缺陷大小

5.單項(xiàng)選擇題探頭標(biāo)牌上的型號(hào)為2.5P20Z,則說明探頭為()。

A.頻率為2MHz,晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz,晶片材料鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz,晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz,晶片材料鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的雙晶直探頭

最新試題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:單項(xiàng)選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。

題型:單項(xiàng)選擇題

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。

題型:單項(xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:單項(xiàng)選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:單項(xiàng)選擇題