單項選擇題能用于測定縱波平底孔實用AVG曲線的試塊是（）。
A.IIW
B.IIW2
C.RB-1
D.CS-2
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1.單項選擇題（）是以特定方法檢測特定試件時所用的試塊，與受檢件材料聲學(xué)特性相似，含有意義明確的參考反射體。
A.對比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
2.單項選擇題（）是具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸，可用以評定和校準(zhǔn)超聲檢測設(shè)備的試塊。
A.對比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
3.單項選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用，說法錯誤的是（）。
A.測試、校驗儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時基線、確定靈敏度
C.測試工件的聲阻抗
D.評判缺陷大小
4.單項選擇題探頭標(biāo)牌上的型號為2.5P20Z，則說明探頭為（）。
A.頻率為2MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的雙晶直探頭
5.單項選擇題探測與探測面成一定角度的近表面缺陷或薄件中的缺陷應(yīng)選擇（）。
A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
最新試題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型：單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項選擇題