A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
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A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
A.避免在靠近強(qiáng)磁場(chǎng)、有強(qiáng)烈振動(dòng)的場(chǎng)合使用儀器
B.儀器工作時(shí)防止雨、雪、水、機(jī)油進(jìn)入儀器內(nèi)部
C.放電后的蓄電池應(yīng)及時(shí)充電
D.氣候潮濕地區(qū)或季節(jié),長(zhǎng)期不用應(yīng)定期開機(jī),開機(jī)時(shí)間約10min
A.掃描電路
B.接收電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.超聲檢測(cè)儀通過(guò)產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上,激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)發(fā)射超聲波
B.超聲檢測(cè)儀可將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大,通過(guò)一定形式顯示出來(lái)
C.超聲檢測(cè)儀可以得到被探測(cè)工件表面及內(nèi)部有無(wú)缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測(cè)儀是超聲檢測(cè)的主體設(shè)備
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
單探頭法容易檢出()。
儀器水平線性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。