單項(xiàng)選擇題()是以特定方法檢測(cè)特定試件時(shí)所用的試塊,與受檢件材料聲學(xué)特性相似,含有意義明確的參考反射體。

A.對(duì)比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊


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2.單項(xiàng)選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用,說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。

A.測(cè)試、校驗(yàn)儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時(shí)基線、確定靈敏度
C.測(cè)試工件的聲阻抗
D.評(píng)判缺陷大小

3.單項(xiàng)選擇題探頭標(biāo)牌上的型號(hào)為2.5P20Z,則說(shuō)明探頭為()。

A.頻率為2MHz,晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz,晶片材料鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz,晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz,晶片材料鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的雙晶直探頭

4.單項(xiàng)選擇題探測(cè)與探測(cè)面成一定角度的近表面缺陷或薄件中的缺陷應(yīng)選擇()。

A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭

5.單項(xiàng)選擇題()是衡量壓電晶體材料接收性能的重要參數(shù)。數(shù)值大,接收性能好,接收靈敏度高。

A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子

最新試題

()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題