圖A是斜入射橫波檢測(cè)示意圖;如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話,斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個(gè)()
A.A
B.B
C.C
D.D
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當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測(cè)時(shí),在圖中,哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示()
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
當(dāng)采用透射法檢測(cè)時(shí),在圖中,哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示()
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
A.使始波寬度的影響落在延遲過(guò)程中
B.提高近表面缺陷的檢出能力
C.減少聲能損失
D.測(cè)量薄件的厚度
A.改善對(duì)小缺陷的檢測(cè)能力
B.改善粗糙表面的信噪比
C.改善相鄰缺陷的分辨力
D.以上都是
A.同一個(gè)缺陷的兩次回波
B.根據(jù)儀器性能確定
C.能檢出所有部位的缺陷
D.根據(jù)工藝要求確定
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
儀器水平線性影響()。
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。