A.改善對小缺陷的檢測能力
B.改善粗糙表面的信噪比
C.改善相鄰缺陷的分辨力
D.以上都是
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A.同一個(gè)缺陷的兩次回波
B.根據(jù)儀器性能確定
C.能檢出所有部位的缺陷
D.根據(jù)工藝要求確定
A.將缺陷最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)
B.聲束沿中心軸線射至缺陷中心才能得到回波最大值
C.聲束垂直射至工件反射面上才能得到缺陷回波最大值
D.只有當(dāng)聲束被整個(gè)缺陷反射面覆蓋時(shí)才能得到回波最大值
A.材料衰減
B.聲束擴(kuò)散
C.近場效應(yīng)
D.以上都可能
A.大于37º
B.小于37º
C.等于37º
D.不確定
A.垂直探傷法
B.穿透法
C.斜角探傷法
D.液浸探傷法
最新試題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。