當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測時(shí)，在圖中，哪個是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
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當(dāng)采用透射法檢測時(shí)，在圖中，哪個是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
A.使始波寬度的影響落在延遲過程中
B.提高近表面缺陷的檢出能力
C.減少聲能損失
D.測量薄件的厚度
A.改善對小缺陷的檢測能力
B.改善粗糙表面的信噪比
C.改善相鄰缺陷的分辨力
D.以上都是
A.同一個缺陷的兩次回波
B.根據(jù)儀器性能確定
C.能檢出所有部位的缺陷
D.根據(jù)工藝要求確定
A.將缺陷最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)
B.聲束沿中心軸線射至缺陷中心才能得到回波最大值
C.聲束垂直射至工件反射面上才能得到缺陷回波最大值
D.只有當(dāng)聲束被整個缺陷反射面覆蓋時(shí)才能得到回波最大值
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯誤的。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。