掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。