A.高
B.低
C.相同
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A.不變
B.降低
C.升高
A.1/2倍
B.1/4倍
C.1/2.8倍
D.1/5倍
A.端角反射低谷
B.過強的端角反射
C.不需要考慮
A.產(chǎn)生61°反射時,縱波入射角與橫波反射角之和為90°
B.產(chǎn)生61°反射時,縱波入射角為61°,橫波反射角為29°
C.產(chǎn)生61°反射時,聲波入射角為29°,縱波反射角為61°
D.產(chǎn)生61°反射時,其聲程是恒定的
A.輻射功率
B.透過率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。