A.端角反射低谷
B.過強(qiáng)的端角反射
C.不需要考慮
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A.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90°
B.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角為61°,橫波反射角為29°
C.產(chǎn)生61°反射時(shí),聲波入射角為29°,縱波反射角為61°
D.產(chǎn)生61°反射時(shí),其聲程是恒定的
A.輻射功率
B.透過率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.等于入射角
B.等于折射角
C.與使用的耦合劑有關(guān)
D.與使用頻率有關(guān)
A.聲阻抗
B.介質(zhì)密度
C.聲速
D.聲壓
A.成正比
B.成反比
C.無關(guān)
D.以上都不是
最新試題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
()是影響缺陷定量的因素。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。