A.1/2倍
B.1/4倍
C.1/2.8倍
D.1/5倍
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A.端角反射低谷
B.過強(qiáng)的端角反射
C.不需要考慮
A.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90°
B.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角為61°,橫波反射角為29°
C.產(chǎn)生61°反射時(shí),聲波入射角為29°,縱波反射角為61°
D.產(chǎn)生61°反射時(shí),其聲程是恒定的
A.輻射功率
B.透過率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.等于入射角
B.等于折射角
C.與使用的耦合劑有關(guān)
D.與使用頻率有關(guān)
A.聲阻抗
B.介質(zhì)密度
C.聲速
D.聲壓
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。