A.聲束窄、能量集中,發(fā)現(xiàn)小缺陷能力強
B.波長短、分辨力好,缺陷定位準(zhǔn)確
C.有顯著的反射指向性,僅能發(fā)現(xiàn)聲束軸線附近的缺陷
D.以上都是
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A.掃查空間小,僅能發(fā)現(xiàn)聲束軸線附近的缺陷
B.對于裂紋缺陷,不是近于垂直地射到裂紋面上不會產(chǎn)生足夠大的回波
C.對于粗晶材料往往得不到足夠的穿透力,使缺陷檢出困難
D.以上都是
A.縱波反射技術(shù)
B.透射技術(shù)
C.斜射橫波技術(shù)
D.以上都可以
A.縱波反射技術(shù)
B.透射技術(shù)
C.斜射橫波技術(shù)
D.以上都可以
A.10.0MHz
B.5.0MHz
C.2.5MHz
D.以上都可以
A.雙晶探頭
B.延遲塊探頭
C.聚焦探頭
D.以上都可以
最新試題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準(zhǔn)。
儀器水平線性影響()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出()。