被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

變形振動分為（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數時，產生系統(tǒng)消光。