利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結果。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。