探傷中對(duì)工件材料的（）有一定的要求。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。

探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

在橫波探傷中，探頭K值對(duì)探傷（）有較大的影響。

采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì)，用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí)，需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對(duì)探傷有利。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測(cè)面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。