A.了解檢測(cè)對(duì)象、獲取檢查程序
B.根據(jù)檢測(cè)對(duì)象選擇儀器、探頭和參考試塊
C.調(diào)定掃描范圍和靈敏度
D.評(píng)定和記錄檢查結(jié)果
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A.聲束從緊固件頭部入射時(shí),將底波調(diào)至60%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時(shí),將底波調(diào)至60%滿屏
C.無論聲束從哪端入射,均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.低稠度耦合劑不利于聲傳播
B.低稠度耦合劑容易進(jìn)入搭接縫中,產(chǎn)生非相關(guān)顯示
C.高稠度耦合劑更適合帶有漆層的表面
D.高稠度耦合劑更容易去除
A.聲束從緊固件頭部入射時(shí),將底波調(diào)至40%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時(shí),將底波調(diào)至40%滿屏
C.無論聲束從哪端入射,均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.去除探頭掃查區(qū)域的漆層
B.去除可能存在裂紋區(qū)域的漆層
C.僅需提高增益而不必去除漆層
D.A和B
A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
儀器水平線性影響()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。