A.低稠度耦合劑不利于聲傳播
B.低稠度耦合劑容易進入搭接縫中,產(chǎn)生非相關(guān)顯示
C.高稠度耦合劑更適合帶有漆層的表面
D.高稠度耦合劑更容易去除
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A.聲束從緊固件頭部入射時,將底波調(diào)至40%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時,將底波調(diào)至40%滿屏
C.無論聲束從哪端入射,均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.去除探頭掃查區(qū)域的漆層
B.去除可能存在裂紋區(qū)域的漆層
C.僅需提高增益而不必去除漆層
D.A和B
A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動而移動;
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動而移動;
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動而移動;
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
A.信號顯示位置將伴隨探頭沿圓周移動而移動
B.信號顯示位置不會伴隨探頭沿圓周移動而移動
C.當探頭沿圓周移動時,信號幅度會變化而位置不會變化
D.當探頭沿圓周移動時,信號位置和幅度都將發(fā)生變化
A.盡量從兩個方向進行掃查,以保證聲束覆蓋整個孔內(nèi)壁;
B.探頭在凸耳外圓與桿身過度區(qū)掃查時,可能會出現(xiàn)孔波的情況;
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動或傾斜掃查,以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷;
D.以上都是。
最新試題
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。