串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

測定組合靈敏度時，應先調節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

脈沖重復頻率的調節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

底波高度法經常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。