控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。

重要過程事件（如工具變更，機(jī)器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。

Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。

當(dāng)控制計(jì)劃要求對(duì)相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時(shí)，公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。

1924年，美國(guó)的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。

變差

當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí)，說明過程處于（）

控制限

過程（Process）

因?yàn)閄（bar）-R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢(shì)更強(qiáng)，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。