A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式2有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。