橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測以下哪種內部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
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橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式2有利于檢測以下哪種內部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現的各反射波的位置應是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現的各反射波的位置應是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據產品技術要求或有關標準來確定。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
單探頭法容易檢出()。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。