橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
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是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
（）
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1：2聲程調(diào)整的話（入射點對‘0’，滿刻度200），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點對‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。此時，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R25圓弧面時的示意圖。此時，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
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（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。