A.均為細(xì)長(zhǎng)結(jié)構(gòu)
B.檢測(cè)難度一樣
C.往往只有一個(gè)端頭外露
D.絕大部分隱藏在地下
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.立柱是金屬構(gòu)件
B.立柱是空心薄壁結(jié)構(gòu)
C.立柱直徑大小不一
D.立柱長(zhǎng)短不一
A.低應(yīng)變反射波法操作簡(jiǎn)便、自動(dòng)判別，精度高；只需樁頭露出。
B.聲波透射法精度較高，需樁頭露出且需要預(yù)留檢測(cè)孔。
C.孔內(nèi)成像法結(jié)果比較直觀，精度高；需要樁頭露出，并且進(jìn)行鉆孔。
D.取芯法結(jié)果直觀；需樁頭露出、受鉆心質(zhì)量影響、成本較高。
A.2
B.3
C.4
D.5
A.5%，3
B.10%，3
C.3%，10
D.3%，2
A.2%，3
B.3%，1
C.1%，3
D.3%，2
最新試題
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈，其阻抗變大的情況有（）
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。