A.立柱是金屬構(gòu)件
B.立柱是空心薄壁結(jié)構(gòu)
C.立柱直徑大小不一
D.立柱長(zhǎng)短不一
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A.低應(yīng)變反射波法操作簡(jiǎn)便、自動(dòng)判別,精度高;只需樁頭露出。
B.聲波透射法精度較高,需樁頭露出且需要預(yù)留檢測(cè)孔。
C.孔內(nèi)成像法結(jié)果比較直觀,精度高;需要樁頭露出,并且進(jìn)行鉆孔。
D.取芯法結(jié)果直觀;需樁頭露出、受鉆心質(zhì)量影響、成本較高。
A.2
B.3
C.4
D.5
A.5%,3
B.10%,3
C.3%,10
D.3%,2
A.2%,3
B.3%,1
C.1%,3
D.3%,2
A.1%,2
B.1%,3
C.3%,1
D.3%,2
最新試題
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
廢舊藥液應(yīng)采用專(zhuān)用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。