單項選擇題下列哪一種情況下,渦流檢測線圈的阻抗會增加?()

A.檢測頻率增加
B.線圈感抗減少
C.線圈電感減少
D.線圈電阻減少


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1.單項選擇題用差動式線圈比較標準試樣與被檢工件時,儀器應(yīng)用下列哪一項調(diào)節(jié)平衡?()

A.一個線圈中的標準試樣
B.一個線圈中的參考標準試樣和另一個線圈中的合格工件
C一個線圈中的參考標準試樣和另一個線圈中的不合格工件
D.一個線圈中工件

2.單項選擇題下列哪一向不是渦流儀器的基本部件?()

A.放大器
B.線圈
C.液體耦合劑
D.檢波器

3.單項選擇題有用信號的響應(yīng)或振幅與檢驗無用的響應(yīng)或信號的振幅之比稱為()。

A.泊松比
B.信噪比
C.電導(dǎo)率磁導(dǎo)率比
D.電抗電阻比

4.單項選擇題作為標定儀器的基準或在評定檢測結(jié)果時作比較用的試樣為()。

A.零平衡器
B.移相器
C.參考標準試樣
D.高通濾波器

5.單項選擇題漏檢率和誤檢率是用來討論探傷設(shè)備性能指標中的()。

A.靈敏度
B.速度
C.分辨率
D.可靠性

最新試題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。

題型:判斷題

點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。

題型:判斷題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()

題型:單項選擇題

檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題